| 專利名稱 | 一種基于角度的遠場圖像畸變校正方法及系統 | ||
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| 申請號/專利號 | CN201810257901.7 | 專利權人（第一權利人） | 長春理工大學 |
| 申請日 | 2018-03-27 | 授權日 | 2020-04-17 |
| 專利類別 | 授權發明 | 戰略新興產業分類 | 雙五星 |
| 技術主題 | 圖像對|矩陣模型|失真校正|方位角|激光|參考圖像|垂直距離 | ||
| 應用領域 | 圖像增強|圖像分析 | ||
| 意向價格 | 具體面議 | ||
| 專利概述 | 本發明公開了一種基于角度的遠場圖像畸變校正方法及系統，該方法包括獲取包括測量軌道與相機的垂直距離、目標靶板與地面法線的夾角及轉臺初始方位角的測量參數；獲取每幅遠場圖像的轉臺方位角，選取轉臺方位角與轉臺初始方位角相同的遠場圖像為參考圖象建立坐標系，并確定參考圖像中每個合作目標的初始位置坐標；計算每幅遠場圖像的轉臺相對角度，根據初始位置坐標及測量參數確定校正矩陣模型；將每幅遠場圖像對應的轉臺相對角度輸入到校正矩陣模型內實現對遠場圖像的校正。因此，本發明提供的方法或者系統是以轉臺相對角度作為畸變參量確定校正矩陣模型，實現對多幅遠場圖像進行畸變校正，耗時短、計算簡單，且滿足激光照射性能監測系統的要求。 | ||
| 圖片資料 |
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| 合作方式 | 具體面議 | ||
| 聯系人 | 戚梅宇 | 聯系電話 | 13074363281 |
