| 專利名稱 | 基于多面陣APD陣列的復合模式激光雷達成像系統 | ||
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| 申請號/專利號 | CN201711068865.1 | 專利權人(第一權利人) | 長春理工大學 |
| 申請日 | 2017-11-03 | 授權日 | 2023-10-31 |
| 專利類別 | 授權發明 | 戰略新興產業分類 | 新一代信息技術 |
| 技術主題 | 機械工程|高分辨率|距離檢測|激光雷達|成像技術|高分辨率成像|高幀頻|光電探測|相位陣列|雷達成像|大視野|光束偏轉|激光器|影像系統|分辨率|光束|中央處理器 | ||
| 應用領域 | 電磁波的再輻射|ICT適應 | ||
| 意向價格 | 具體面議 | ||
| 專利概述 | 基于多面陣APD陣列的復合模式激光雷達成像系統,涉及雷達工程領域,本發明為解決現有成像技術單一,無法同時滿足遠距離、大視場與高幀頻、高分辨率成像的需求等問題,本發明能夠實現掃描成像與凝視成像兩種工作模式,且兩種工作模式既能夠獨立工作,又能夠同步協調工作;包括中央處理單元、激光發射系統和回波接收系統;激光發射系統包括激光器模塊、第一發射系統、第二發射系統,回波接收系統包括第一接收系統和第二接收系統;本發明采用光學相控陣作為光束偏轉器件,有效的減小了系統的體積。采用蓋革模式APD陣列作為光電探測接收器件,實現更遠距離的探測,以及獲取更高的距離分辨率。 | ||
| 圖片資料 |
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| 合作方式 | 擬許可 | ||
| 聯系人 | 戚梅宇 | 聯系電話 | 13074363281 |